本發(fā)明公開了一種半導(dǎo)體三極管生產(chǎn)用測(cè)試裝置，涉及半導(dǎo)體技術(shù)領(lǐng)域，包括主體機(jī)構(gòu)、壓力測(cè)試機(jī)構(gòu)、低溫測(cè)試機(jī)構(gòu)以及高溫測(cè)試機(jī)構(gòu)。在壓力測(cè)試機(jī)構(gòu)中，電缸通過其活塞桿的移動(dòng)，驅(qū)動(dòng)壓板向下壓動(dòng)，且壓于三極管，可以測(cè)試封裝后的三極管的抗壓力性能；同時(shí)，在凸輪的運(yùn)動(dòng)下，能夠驅(qū)動(dòng)第一振動(dòng)板上下運(yùn)動(dòng)，第一振動(dòng)板的上下運(yùn)動(dòng)帶動(dòng)第一彈簧進(jìn)行振動(dòng)，第一彈簧振動(dòng)下帶動(dòng)第二振動(dòng)板振動(dòng)，從而可以模擬封裝后的三極管在不斷振動(dòng)的條件下，內(nèi)部器件有無損壞；通過高溫測(cè)試機(jī)構(gòu)，可以測(cè)試三極管在高溫狀態(tài)下的耐受力；通過低溫測(cè)試機(jī)構(gòu)，可以測(cè)試三極管在低溫狀態(tài)下的耐受力。