磁性
芯片磁參數(shù)批量化測試系統(tǒng),包括磁場發(fā)生裝置,位于磁場發(fā)生裝置磁場區(qū)域的測試平臺,被測芯片放置在測試平臺上,磁場發(fā)生裝置連接電源和調(diào)壓器,磁場發(fā)生裝置通過控制電路模塊連接處理器裝置;被測芯片通過數(shù)據(jù)采集模塊連接處理器裝置。本實(shí)用新型一種磁性芯片磁參數(shù)批量化測試系統(tǒng),可對芯片的磁性能進(jìn)行批量的、快速的、無損的檢測。
聲明:
“磁性芯片磁參數(shù)批量化測試系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)