本發(fā)明公開一種四腳磁性探頭的應(yīng)力和殘余奧氏體含量一體的分層測量系統(tǒng),四腳磁性探頭的應(yīng)力和殘余奧氏體含量一體的分層測量系統(tǒng)實現(xiàn)了應(yīng)力和殘余奧氏體含量一體的分層測量,測試精度高,測量難度低,檢測周期短,測試方法簡便、靈活,能達(dá)到被測鐵磁性材料物體的任何部位,更能夠進(jìn)行材料的無損測量。
聲明:
“四腳磁性探頭應(yīng)力和殘余奧氏體含量一體的分層測量系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)