本發(fā)明公開(kāi)了一種超聲無(wú)損檢測(cè)缺陷位置回溯方法,其包括以下步驟:對(duì)工件進(jìn)行超聲波掃描,并對(duì)掃描軌跡路徑進(jìn)行位置編碼,得到掃描信號(hào)數(shù)據(jù)和編碼位置數(shù)據(jù);根據(jù)掃描信號(hào)數(shù)據(jù)和編碼位置數(shù)據(jù)生成圖像;在圖像上找出缺陷位置并選取,獲取所選圖像區(qū)域中心對(duì)應(yīng)的編碼位置;根據(jù)所選圖像區(qū)域中心對(duì)應(yīng)的編碼位置,回溯至工件實(shí)際對(duì)應(yīng)的缺陷位置處。本發(fā)明可以在無(wú)損檢測(cè)的過(guò)程中先對(duì)工件進(jìn)行整體掃描,整體掃描雖然耗時(shí)長(zhǎng),但是全程可以無(wú)專業(yè)人員參與,而當(dāng)掃描完成后,再找出缺陷位置,然后根據(jù)缺陷位置對(duì)應(yīng)的編碼位置,在掃描后也可來(lái)到工件的缺陷位置點(diǎn)上,再進(jìn)行標(biāo)識(shí)、修復(fù)或者復(fù)檢等操作,從而有利于提高檢測(cè)效率和降低成本。
聲明:
“超聲無(wú)損檢測(cè)缺陷位置回溯方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)