本發(fā)明屬于表面等離子體共振金基膜制備技術(shù)領(lǐng)域。本發(fā)明的方法主要是將具有較大厚度的表面等離子體共振金基膜在含有合適氯離子濃度的溶液中,在一定電壓范圍內(nèi)進(jìn)行
電化學(xué)掃描。在每次掃描后記錄表面等離子體共振曲線,根據(jù)表面等離子體共振曲線與金基膜厚度間的對(duì)應(yīng)關(guān)系來(lái)確定金基膜厚度,結(jié)果證明,當(dāng)表面等離子體共振金基膜厚度不超過(guò)95nm時(shí),這種方法能夠?qū)⒔鸹ず穸瓤煽氐谋』竭m合于表面等離子體共振分析40-60nm的厚度。得到的表面等離子體共振金基膜適用于一般的表面等離子體共振金膜分析。
聲明:
“薄化表面等離子體共振金膜的方法” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專(zhuān)利(論文)的發(fā)明人(作者)