本申請涉及
芯片測試技術領域,具體公開了一種測試系統(tǒng),該測試系統(tǒng)包括測試盒和性能參數(shù)檢測裝置,測試盒包括性能模塊、通道模塊、電源模塊及連接模塊,性能模塊包括性能測試線路及性能開關,通道模塊包括連接通道及連接孔,連接通道與性能模塊串聯(lián)連接,連接通道與待測試件連接;測試盒連接有電源,電源模塊包括電源第一端口和電源第二端口;連接模塊包括輸入端口及輸出端口,性能參數(shù)檢測裝置與性能模塊連接。通過性能開關選擇性連通其中一個性能測試線路實現(xiàn)芯片性能檢測,性能參數(shù)檢測裝置顯示性能測試參數(shù)或性能測試圖表等,控制性能開關與另一性能測試線路連通方便快速的測試芯片的另一性能,提高測試效率,方便技術人員操作。
聲明:
“測試系統(tǒng)” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)