本發(fā)明公開(kāi)了一種集成電路測(cè)試設(shè)備，屬于集成電路測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，一種集成電路測(cè)試設(shè)備，包括測(cè)試主機(jī)，測(cè)試主機(jī)通過(guò)PCI總線與計(jì)算機(jī)連接，測(cè)試主機(jī)通過(guò)繼電器矩陣與集成電路連接，測(cè)試主機(jī)上設(shè)有多個(gè)測(cè)試分機(jī)，本發(fā)明提供了一種集便攜式測(cè)試和臺(tái)式測(cè)試技術(shù)于一體的并具有高精準(zhǔn)度的集成電路測(cè)試設(shè)備，本發(fā)明以測(cè)試分機(jī)作為主要測(cè)試設(shè)備，可隨時(shí)進(jìn)行便攜式測(cè)試，測(cè)試主機(jī)作為多個(gè)測(cè)試分機(jī)的連接輔助載體，可使多個(gè)測(cè)試分機(jī)同時(shí)對(duì)同一集成電路進(jìn)行同步測(cè)試，集中分析多個(gè)測(cè)試結(jié)果以減小測(cè)試誤差，并且，通過(guò)測(cè)試主機(jī)對(duì)多個(gè)測(cè)試分機(jī)的信號(hào)數(shù)據(jù)進(jìn)行采集及統(tǒng)一校準(zhǔn)，分析測(cè)試分機(jī)的測(cè)試性能，檢測(cè)出并提高測(cè)試分機(jī)的測(cè)試精確度。