本實(shí)用新型涉及電子元器件檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域,公開了一種用于電子元器件的耐沖擊性能檢測(cè)裝置,所述底架的內(nèi)部設(shè)置有第三電動(dòng)伸縮桿,所述第三電動(dòng)伸縮桿的伸縮端連接有伸縮架,所述伸縮架的下表面在放置板的上方設(shè)置有放置架,所述放置架的內(nèi)部設(shè)置有檢測(cè)塊,所述放置板的上表面設(shè)置有檢測(cè)板,所述檢測(cè)板的上表面設(shè)置有安裝板,且檢測(cè)板的上表面在安裝板的后方設(shè)置有夾緊板。通過底架內(nèi)部設(shè)置的第三電動(dòng)伸縮桿的工作,能夠調(diào)節(jié)伸縮架的高度,同時(shí)利用第二電動(dòng)伸縮桿的工作可調(diào)節(jié)放置架的位置,并利用第一電動(dòng)伸縮桿的工作可將卡板與檢測(cè)塊分開,這樣能夠?qū)z測(cè)塊釋放,從而通過檢測(cè)塊可對(duì)檢測(cè)板上的電子元器件沖擊檢測(cè)。
聲明:
“一種用于電子元器件的耐沖擊性能檢測(cè)裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)