本實用新型公開了高密度存儲一體化
芯片性能檢測設備,包括檢測設備主體,所述檢測設備主體的上端外表面設置有外殼罩,所述外殼罩的上端外表面設置有頂蓋和絞座,所述絞座的一側(cè)外表面設置有扣件。通過在檢測設備主體的上端外表面設置外殼罩,在外殼罩的上端外表面設置頂蓋,頂蓋的上端而表面設置有卡件,有利于檢測設備處于較為密閉的環(huán)境,使檢測的數(shù)據(jù)更加精確,通過在一號載盤的下端外表面設置電動伸縮桿、滑板和一號滑軌,一號載盤的上端外表面設置吸盤和滑桿等部件,有利于使用者將芯片從頂蓋處放在一號載盤上,之后一號載盤帶著芯片來到吸盤下方,吸盤再將芯片吸至
檢測儀器處的二號載盤上,有利于實現(xiàn)自動上料。
聲明:
“高密度存儲一體化芯片性能檢測設備” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)