本實(shí)用新型公開了一種半導(dǎo)體在不同溫度下性能檢測設(shè)備，包括：檢測箱，所述檢測箱前后端分別通過鉸鏈轉(zhuǎn)動安裝有密封門，所述檢測箱內(nèi)腔表面安裝有若干個(gè)加熱管，所述檢測箱內(nèi)腔上端安裝有兩個(gè)溫度監(jiān)測模塊，所述檢測箱內(nèi)腔安裝有兩個(gè)可升降移動的升降架。本實(shí)用新型中，通過隔熱板，可以使其檢測箱內(nèi)形成兩個(gè)腔室，每個(gè)腔體通過不同的加熱管可以形成不同溫度，從而能夠使得半導(dǎo)體在一次檢測后，可以直接進(jìn)入預(yù)設(shè)好溫度的第二個(gè)腔室內(nèi)進(jìn)行二次檢測，提高了檢測的效率，并且通過可密封的隔熱板，可以防止兩個(gè)腔室內(nèi)的溫度相互影響，通過C型槽可以套接插入半導(dǎo)體的兩端，將其架起懸空，使得半導(dǎo)體每個(gè)面都能接觸到溫度。