本實用新型屬于半導體激光器領域，特別涉及一種半導體激光管性能檢測裝置，包括MCU模塊，MCU模塊依次通過電壓轉換模塊、測試電壓模塊與測試模塊連接，MCU模塊還分別通過譯碼器模塊、測試電流模塊、多路選擇模塊與測試模塊連接；測試模塊包括若干并聯(lián)的待測模組，待測模組包括一P型MOS管和待測半導體激光管，P型MOS管的源極連接半導體激光管正極，其漏極接收測試電壓模塊提供的測試電壓，半導體激光管的負極接收測試電流模塊提供的測試電流。本新型通過MCU對整體裝置進行控制可同時對多個激光二極管進行性能檢測，減少了多檢測時需要的數據傳輸通路，簡化了電路結構，可對測試電壓和電流進行調節(jié)，保證了整個裝置的低功耗運行。