本發(fā)明公開的一種廢舊半導體儲存器檢測回收系統(tǒng)及其使用方法,包括工作臺,所述工作臺內(nèi)設有開口朝上的回收腔,所述工作臺內(nèi)設有位于所述回收腔左側的,所述工作臺上設有閃存顆粒拆解機構,所述工作臺上設有位于所述閃存顆粒拆解機構右側的閃存顆粒檢測
篩分機構,所述閃存顆粒檢測篩分機構用于檢測閃存顆粒,并對能正常工作的所述閃存顆粒和損壞的所述閃存顆粒進行分類儲存,所述閃存顆粒拆解機構通過加熱使所述閃存顆粒與廢舊手機主板脫離,本發(fā)明能自動回收檢測手機上的閃存顆粒,并對閃存顆粒進行檢測分類回收,自動化程度較高,處理效率較高,降低對人員依賴性,且能降低廢氣對人員和環(huán)境的危害程度。
聲明:
“一種廢舊半導體儲存器檢測回收系統(tǒng)及其使用方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)