權利要求書: 1.一種用于光學元器件檢測的高精度測厚儀,其包括:機臺(1)、居中固定組件(2)以及位移測定組件(3),其中,所述居中固定組件(2)固定安裝在機臺(1)上端面的右側,用于對待檢測光學元器件進行居中夾持固定,所述位移測定組件(3)設置在居中固定組件(2)的正上方,以便對待測量光學元器件進行厚度檢測,所述機臺(1)上還設置有輔助照明燈(5),其特征在于:所述位移測定組件(3)滑動設置在氣動滑軌(4)上,以實現(xiàn)位移測定組件(3)的上下精確位移;
所述位移測定組件(3)與居中固定組件(2)的豎直方向上的中心軸線相互共線,以便實現(xiàn)對待檢測光學元器件的中心厚度進行精確的測量。
2.根據(jù)權利要求1所述的一種用于光學元器件檢測的高精度測厚儀,其特征在于:所述位移測定組件(3)包括頂板(31)、調節(jié)桿(32)、限位板(33)以及承接座(34),所述頂板(31)的下端面上對稱安裝有兩個調節(jié)桿(32),兩個所述調節(jié)桿(32)的伸縮端固定在承接座(34)的上端面;
所述承接座(34)的橫截面為T形結構,且,所述承接座(34)豎直部分外部滑動套設有限位板(33),所述限位板(33)的最大直徑大于支撐殼體(21)頂端開口的直徑;
所述調節(jié)桿(32)的伸縮軸外部套設有彈簧一(321);
所述承接座的下端設置有頂部壓感觸頭(35),且,所述頂部壓感觸頭(35)為弧面錐形結構。
3.根據(jù)權利要求2所述的一種用于光學元器件檢測的高精度測厚儀,其特征在于:所述頂板(31)的下端面內均勻圓周嵌入有多個激光接收器(331)。
4.根據(jù)權利要求2所述的一種用于光學元器件檢測的高精度測厚儀,其特征在于:所述承接座(34)的上端面內圓周均勻嵌入有若干激光發(fā)射器(341),且,若干所述激光發(fā)射器(341)的位置與數(shù)量均與頂板(31)內的多個激光接收器(331)相匹配,以便測得承接座(34)各方位的位移變化量。
5.根據(jù)權利要求1所述的一種用于光學元器件檢測的高精度測厚儀,其特征在于:所述居中固定組件(2)包括支撐殼體(21)、夾緊組件(22)以及調節(jié)裝置(23),所支撐殼體(21)的內壁上圓周滑動設置有多個調節(jié)裝置(23),且,每個所述調節(jié)裝置(23)遠離支撐殼體(21)內壁的一端固定安裝有夾緊組件(22);
每個所述調節(jié)裝置(23)的下端均通過電動伸縮桿一(25)與支撐殼體(21)的底壁固定連接。
6.根據(jù)權利要求5所述的一種用于光學元器件檢測的高精度測厚儀,其特征在于:所述支撐殼體(21)的底壁中部固定安裝有底部壓感觸頭(24),且,所述底部壓感觸頭(24)與頂部壓感觸頭(35)在豎直方向上的中心軸線相共線;
在未放入待測量透鏡的情況下,所述位移測定組件(3)下移至最大位移處時,頂部壓感觸頭(35)的底端恰好與底部壓感觸頭(24)的頂端相接觸。
7.根據(jù)權利要求5所述的一種用于光學元器件檢測的高精度測厚儀,其特征在于:所述夾緊組件(22)包括支撐托座(221)、感壓滑塊(222)、上夾板(223)、限位套殼(224)以及中樞滑塊(225),所述感壓滑塊(222)滑動設置在支撐托座(221)的底部,且,其右端通過多個彈簧二與支撐托座(221)的側壁相固定連接,所述限位套殼(224)固定設置在支撐托座(221)的頂壁上,所述中樞滑塊(225)的上端通過若干彈簧三滑動設置在限位套殼(224)的內部,所述中樞滑塊(225)的左端固定連接有上夾板(223);
所述感壓滑塊(222)的右上部為斜面結構,且,所述斜面結構與中樞滑塊(225)下端的斜面相匹配。
8.根據(jù)權利要求7所述的一種用于光學元器件檢測的高精度測厚儀,其特征在于:所述上夾板(223)的左側面和下側面、感壓滑塊(222)的左側面以及支撐托座(221)下端的左側面和上側面上均包裹有柔性棉,其中,所述支撐托座(221)上側面包裹柔性棉的區(qū)域與上夾板(223)下側面包裹柔性棉的區(qū)域相匹配。
9.根據(jù)權利要求7所述的一種用于光學元器件檢測的高精度測厚儀,其特征在于:所述上夾板(223)的左側面與支撐托座(221)的左側面所在圓周的半徑相等,所述感壓滑塊(222)的左側面所在圓周的半徑小于上夾板(223)左側面所在圓周的半徑。
10.根據(jù)權利要求5所述的一種用于光學元器件檢測的高精度測厚儀,其特征在于:所述調節(jié)裝置(23)包括電動調節(jié)桿二(231)以及穩(wěn)固套桿(232),所述電動調節(jié)桿二(231)的上下兩側對稱設置有多個穩(wěn)固套桿(232),所述電動調節(jié)桿二(231)以及多個穩(wěn)固套桿(232)的伸縮端均固定在支撐托座(221)上。
說明書: 一種用于光學元器件檢測的高精度測厚儀技術領域[0001] 本發(fā)明屬于測厚裝置技術領域,具體是一種用于光學元器件檢測的高精度測厚儀。
背景技術[0002] 光學元器件又稱光學元件,是光學系統(tǒng)的基本組成單位,其包括透鏡、棱鏡、反射鏡等,其中,最常用的即為透鏡;透鏡中心厚度作為決定透鏡光學性能的重要參數(shù),對其進
行檢測應保證達到足夠的精度;然而據(jù)調查發(fā)現(xiàn),目前現(xiàn)有的光學透鏡測厚儀往往存在以
下問題:
[0003] 1.夾持組件的結構和方式單一,僅能對凹透鏡或凸透鏡中的一種進行夾持固定,局限性較大,無法滿足對多種透鏡厚度進行檢測的需求;
[0004] 2.采用千分尺或千分表的測量方式對透鏡的中心厚度進行人工讀數(shù)測量,無法保證測量精度;
[0005] 3.接觸式測量裝置中通過移動觸點確定透鏡的中心點,使得測量觸頭與透鏡之間反復摩擦,可能會導致透鏡表面被刮花,甚至無法使用。
[0006] 因此,本領域技術人員提供了一種用于光學元器件檢測的高精度測厚儀,以解決上述背景技術中提出的問題。
發(fā)明內容[0007] 為實現(xiàn)上述目的,本發(fā)明提供如下技術方案:一種用于光學元器件檢測的高精度測厚儀,其包括機臺、居中固定組件以及位移測定組件,其中,所述居中固定組件固定安裝
在機臺上端面的右側,用于對待檢測光學元器件進行居中夾持固定,所述位移測定組件設
置在居中固定組件的正上方,以便對待測量光學元器件進行厚度檢測,所述機臺上還設置
有輔助照明燈,所述位移測定組件滑動設置在氣動滑軌上,以實現(xiàn)位移測定組件的上下精
確位移;
[0008] 所述位移測定組件與居中固定組件的豎直方向上的中心軸線相互共線,以便實現(xiàn)對待檢測光學元器件的中心厚度進行精確的測量。
[0009] 進一步,作為優(yōu)選,所述位移測定組件包括頂板、調節(jié)桿、限位板以及承接座,所述頂板的下端面上對稱安裝有兩個調節(jié)桿,兩個所述調節(jié)桿的伸縮端固定在承接座的上端
面;
[0010] 所述承接座的橫截面為T形結構,且,所述承接座豎直部分外部滑動套設有限位板,所述限位板的最大直徑大于支撐殼體頂端開口的直徑;
[0011] 所述調節(jié)桿的伸縮軸外部套設有彈簧一;[0012] 所述承接座的下端設置有頂部壓感觸頭,且,所述頂部壓感觸頭為弧面錐形結構。[0013] 進一步,作為優(yōu)選,所述頂板的下端面內均勻圓周嵌入有多個激光接收器。[0014] 進一步,作為優(yōu)選,所述承接座的上端面內圓周均勻嵌入有若干激光發(fā)射器,且,若干所述激光發(fā)射器的位置與數(shù)量均與頂板內的多個激光接收器相匹配,以便測得承接座
各方位的位移變化量。
[0015] 進一步,作為優(yōu)選,所述居中固定組件包括支撐殼體、夾緊組件以及調節(jié)裝置,所支撐殼體的內壁上圓周滑動設置有多個調節(jié)裝置,且,每個所述調節(jié)裝置遠離支撐殼體內
壁的一端固定安裝有夾緊組件;
[0016] 每個所述調節(jié)裝置的下端均通過電動伸縮桿一與支撐殼體的底壁固定連接。[0017] 進一步,作為優(yōu)選,所述支撐殼體的底壁中部固定安裝有底部壓感觸頭,且,所述底部壓感觸頭與頂部壓感觸頭在豎直方向上的中心軸線相共線;
[0018] 在未放入待測量透鏡的情況下,所述位移測定組件下移至最大位移處時,頂部壓感觸頭的底端恰好與底部壓感觸頭的頂端相接觸。
[0019] 進一步,作為優(yōu)選,所述夾緊組件包括支撐托座、感壓滑塊、上夾板、限位套殼以及中樞滑塊,所述感壓滑塊滑動設置在支撐托座的底部,且,其右端通過多個彈簧二與支撐托
座的側壁相固定連接,所述限位套殼固定設置在支撐托座的頂壁上,所述中樞滑塊的上端
通過若干彈簧三滑動設置在限位套殼的內部,所述中樞滑塊的左端固定連接有上夾板;
[0020] 所述感壓滑塊的右上部為斜面結構,且,所述斜面結構與中樞滑塊下端的斜面相匹配。
[0021] 進一步,作為優(yōu)選,所述上夾板的左側面和下側面、感壓滑塊的左側面以及支撐托座下端的左側面和上側面上均包裹有柔性棉,其中,所述支撐托座上側面包裹柔性棉的區(qū)
域與上夾板下側面包裹柔性棉的區(qū)域相匹配。
[0022] 進一步,作為優(yōu)選,所述上夾板的左側面與支撐托座的左側面所在圓周的半徑相等,所述感壓滑塊的左側面所在圓周的半徑小于上夾板左側面所在圓周的半徑。
[0023] 進一步,作為優(yōu)選,所述調節(jié)裝置包括電動調節(jié)桿二以及穩(wěn)固套桿,所述電動調節(jié)桿二的上下兩側對稱設置有多個穩(wěn)固套桿,所述電動調節(jié)桿二以及多個穩(wěn)固套桿的伸縮端
均固定在支撐托座上。
[0024] 與現(xiàn)有技術相比,本發(fā)明的有益效果是:[0025] 1.在居中固定組件,通過上夾板與支撐托座可對凹透鏡或厚度較厚的透鏡進行夾持穩(wěn)固,通過上夾板與支撐托座之間的間隙可對厚度較薄的透鏡進行穩(wěn)固加持,同時,通過
環(huán)形設置的多個居中固定組件可對不同形狀的透鏡進行夾持,不僅限于圓形透鏡,大大提
高了本裝置的適應性;
[0026] 2.在位移測定組件中,通過在頂板以及限位板中嵌入有多組激光發(fā)射以及接收器,用于對頂部壓感觸頭的位移變化量進行精確測量,采用激光測量的精度遠高于傳統(tǒng)千
分尺、千分表的測量方式,提高了測量結果的精確性;
[0027] 3.本設備中居中固定組件與位移測定組件在豎直方向上的中心軸線相互共線,頂部壓感觸頭與底部壓感觸頭在豎直方向上的中心線也相互共線,也就是說,本裝置中預先
對相應組件之間的中心度進行設定,同時通過居中固定組件將待檢測透鏡自動居中夾持固
定,減小了壓感觸頭與透鏡之間的接觸時長以及摩擦力,從而保證了透鏡表面的完整性。
附圖說明[0028] 圖1為本發(fā)明的結構示意圖;[0029] 圖2為本發(fā)明中位移測定組件的結構示意圖;[0030] 圖3為本發(fā)明中居中固定組件的結構示意圖;[0031] 圖4為圖3的A處放大結構示意圖;[0032] 圖5為本發(fā)明中居中固定組件的俯視圖;[0033] 圖6為本發(fā)明居中固定組件夾持凸透鏡時的狀態(tài)示意圖;[0034] 圖中:1、機臺;2、居中固定組件;21、支撐殼體;22、夾緊組件;221、支撐托座;222、感壓滑塊;223、上夾板;224、限位套殼;225、中樞滑塊;23、調節(jié)裝置;231、電動伸縮桿二;
232、穩(wěn)固套桿;24、底部壓感觸頭;25、電動伸縮桿一;3、位移測定組件;31、頂板;32、調節(jié)
桿;321、彈簧一;33、限位板;331、激光接收器;34、承接座;341、激光發(fā)射器;35、頂部壓感觸
頭;4、氣動滑軌;5、輔助照明燈。
具體實施方式[0035] 請參閱圖1、圖6,,本發(fā)明實施例中,一種用于光學元器件檢測的高精度測厚儀,其包括機臺1、居中固定組件2以及位移測定組件3,其中,所述居中固定組件2固定安裝在機臺
1上端面的右側,用于對待檢測光學元器件進行居中夾持固定,所述位移測定組件3設置在
居中固定組件2的正上方,以便對待測量光學元器件進行厚度檢測,所述機臺1上還設置有
輔助照明燈5,所述位移測定組件3滑動設置在氣動滑軌4上,以實現(xiàn)位移測定組件3的上下
精確位移;
[0036] 所述位移測定組件3與居中固定組件2的豎直方向上的中心軸線相互共線,以便實現(xiàn)對待檢測光學元器件的中心厚度進行精確的測量。
[0037] 參閱圖2,本實施例中,所述位移測定組件3包括頂板31、調節(jié)桿32、限位板33以及承接座34,所述頂板31的下端面所有對稱安裝有兩個調節(jié)桿32,兩個所述調節(jié)桿32的伸縮
端固定在承接座34的上端面,兩個所述調節(jié)桿32主要用于對承接座34的固定限位,防止承
接座34在檢測過程中發(fā)生搖晃擺動,影響測量結果,從而提高了本裝置測量的精確性;
[0038] 所述承接座34的橫截面為T形結構,且,所述承接座34豎直部分外部滑動套設有限位板33,所述限位板33的最大直徑大于支撐托座221頂端開口的直徑,用于在測量時對居中
固定組件2進行封閉,使得待測量透鏡處于密閉的空間內,防止測量過程中有異物落入居中
固定組件2內,從而影響測量結果的準確性,進而提高了測量的精度;
[0039] 所述調節(jié)桿32的伸縮軸外部套設有彈簧一321,所述彈簧一321用于克服調節(jié)桿32的阻尼,以使得非檢測狀態(tài)下的承接座34自然下垂至最低端;
[0040] 所述承接座的下端設置有頂部壓感觸頭35,且,所述頂部壓感觸頭35為弧面錐形結構。
[0041] 作為較佳的實施例,所述頂板31的下端面內均勻圓周嵌入有多個激光接收器331。[0042] 本實施例中,所述承接座34的上端面內圓周均勻嵌入有若干激光發(fā)射器341,且,若干所述激光發(fā)射器341的位置與數(shù)量均與頂板31內的多個激光接收器331相匹配,以便測
得承接座34各方位的位移變化量,由于在對透鏡中心厚度測量過程中,承接座34上移時不
同方位上會產生不同的位移差值,通過多組激光發(fā)射器341與激光接收器331測得不同方位
上的位移數(shù)據(jù),并以多組數(shù)據(jù)的平均值作為最終測量結果,使得測量數(shù)據(jù)更加準確,從而大
大提高了測量的精度。
[0043] 參閱圖3、圖5,本實施例中,所述居中固定組件2包括支撐殼體21、夾緊組件22以及調節(jié)裝置23,所支撐殼體21的內壁上圓周滑動設置有多個調節(jié)裝置23,且,每個所述調節(jié)裝
置23遠離支撐殼體21內壁的一端固定安裝有夾緊組件22;
[0044] 每個所述調節(jié)裝置23的下端均通過電動伸縮桿一25與支撐殼體21的底壁固定連接,所述電動伸縮桿一25用于調節(jié)調節(jié)裝置23的高度,從而使得不同規(guī)格透鏡的底端均能
與底部壓感觸頭24的頂端相接觸,進而提高了本裝置的適用性。
[0045] 本實施例中,所述支撐殼體21的底壁中部固定安裝有底部壓感觸頭24,且,所述底部壓感觸頭24與頂部壓感觸頭35在豎直方向上的中心軸線相共線,使得在對透鏡進行厚度
檢測時,直接測得的數(shù)據(jù)即為透鏡的中心厚度,無需在進行對透鏡中心點進行定位的工作,
簡化了操作步驟,從而使得本裝置使用更為便捷;
[0046] 在未放入待測量透鏡的情況下,所述位移測定組件3下移至最大位移處時,頂部壓感觸頭35的底端恰好與底部壓感觸頭24的頂端相接觸,也就是說,在居中固定組件2中不放
入透鏡的情況下,將位移測定組件3下移至最大位移處,此時,頂部壓感觸頭35的底端與底
部壓感觸頭24的頂端恰好相接觸,通過激光發(fā)射器341和激光接收器331測得的位移數(shù)據(jù)為
零,因此,當加入檢測透鏡后,頂部壓感觸頭35向上的位移量即為該透鏡的中心厚度。
[0047] 參閱圖4,作為較佳的實施例,所述夾緊組件22包括支撐托座221、感壓滑塊222、上夾板223、限位套殼224以及中樞滑塊225,所述感壓滑塊222滑動設置在支撐托座221的底
部,且,其右端通過多個彈簧二與支撐托座221的側壁相固定連接,所述限位套殼224固定設
置在支撐托座221的頂壁上,所述中樞滑塊225的上端通過若干彈簧三滑動設置在限位套殼
224的內部,所述中樞滑塊225的左端固定連接有上夾板223;
[0048] 所述感壓滑塊222的右上部為斜面結構,且,所述斜面結構與中樞滑塊225下端的斜面相匹配,當對一般凸透鏡以及邊緣厚度較薄的透鏡進行厚度檢測時,通過將透鏡塞入
上夾板223與支撐托座221的間隙中,在電動伸縮桿二231不斷伸出的過程中,使得感壓滑塊
222向遠離透鏡的一側移動,通過斜面配合使得中樞滑塊225上移,進而帶動上夾板223上
移,并最終使得較薄透鏡被夾緊固定。
[0049] 本實施例中,所述上夾板223的左側面和下側面、感壓滑塊222的左側面以及支撐托座221下端的左側面和上側面上均包裹有柔性棉,其中,所述支撐托座221上側面包裹柔
性棉的區(qū)域與上夾板223下側面包裹柔性棉的區(qū)域相匹配,所述柔性棉防止在對透鏡進行
夾持過程中對其表面造成損傷,影響其后期使用,從而保證了透鏡的完整性。
[0050] 本實施例中,所述上夾板223的左側面與支撐托座221的左側面所在圓周的半徑相等,所述感壓滑塊222的左側面所在圓周的半徑小于上夾板223左側面所在圓周的半徑,也
就是說,當對一般凹透鏡或邊緣較厚的透鏡進行夾持固定時,僅有上夾板223以及支撐托座
221的左側面與透鏡側邊相接觸,而對一般凸透鏡或邊緣較薄的透鏡進行夾持固定時,通過
感壓滑塊222的左側面與透鏡邊緣相接觸并對其進行夾緊,同時上夾板223的下側面以及支
撐托座221的上側面分別與透鏡的上下面相接觸,對其進行豎直方向上的限位夾緊,從而可
有效避免傳統(tǒng)僅有邊緣夾緊固定方式對邊緣厚度較薄透鏡進行夾緊時容易產生晃動的情
況發(fā)生,進而在提高本裝置適應性的同時,也提高了對不同規(guī)格透鏡夾持的穩(wěn)定性。
[0051] 本實施例中,所述調節(jié)裝置23包括電動調節(jié)桿二231以及穩(wěn)固套桿232,所述電動調節(jié)桿二231的上下兩側對稱設置有多個穩(wěn)固套桿232,所述電動調節(jié)桿二231以及多個穩(wěn)
固套桿232的伸縮端均固定在支撐托座221上,通過電動伸縮桿二231可實現(xiàn)對透鏡的夾緊
固定與取卸,多個穩(wěn)固套桿232則是為了增加夾緊組件22的穩(wěn)定性,防止在伸縮過程中產生
晃動,進而提高了對透鏡夾持的穩(wěn)定性。
[0052] 具體地,首先,根據(jù)所處環(huán)境的光線條件自適應調節(jié)輔助照明燈的開關,由工作人員將待檢測透鏡放置到居中固定組件中間,并通過控制電動調節(jié)桿二將透鏡夾緊,此中,需
要注意的是,在對透鏡進行夾緊時,根據(jù)待檢測透鏡的邊緣厚度選擇夾緊方式,一般情況
下,當待檢測透鏡為凸透鏡時,需將凸透鏡塞入其中一個居中固定組件中上夾板與支撐托
座之間,在控制電動調節(jié)桿二進行夾緊,凹透鏡則直接置于多個居中固定組件的中部,控制
電動伸縮桿二夾緊即可,此過程中,均通過人工手持透鏡直至透鏡完全夾緊,然后,通過控
制電動伸縮桿一使得透鏡底端與底部壓感觸頭相接觸,緊接著,控制氣動滑軌,使得位移測
定組件下移至最大位移處,通過激光發(fā)射器與激光接收器的協(xié)同作用下,測得頂部壓感觸
頭的位移量,并將多個方位測得數(shù)據(jù)的平均值作為最終厚度檢測結果顯示在機臺的顯示屏
上,此中,需要注意的是,每次測量位移測定組件均需下移至最大位移處,從而保證在放入
透鏡后頂部壓感觸頭向上的位移量即為其中心厚度,測量完成后,將位移測定組件上移恢
復原位,并先由工作人員手持透鏡,然后在控制電動調節(jié)桿二將透鏡取出,各個組件均恢復
至原位即可。
[0053] 上所述的,僅為本發(fā)明較佳的具體實施方式,但本發(fā)明的保護范圍并不局限于此,任何熟悉本技術領域的技術人員在本發(fā)明揭露的技術范圍內,根據(jù)本發(fā)明的技術方案及其
發(fā)明構思加以等同替換或改變,都應涵蓋在本發(fā)明的保護范圍之內。
聲明:
“用于光學元器件檢測的高精度測厚儀” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)