權(quán)利要求書： 1.一種超聲波探傷儀探頭，它包括外殼、阻尼塊、吸收塊和晶片，晶片固定在阻尼塊上，其特征在于：在所述外殼內(nèi)設(shè)置有腔體，阻尼塊通過一根轉(zhuǎn)軸可轉(zhuǎn)動(dòng)設(shè)置在腔體內(nèi)，轉(zhuǎn)軸的一端伸出外殼后設(shè)置一個(gè)標(biāo)尺，在外殼的上方設(shè)置一個(gè)弧形刻度板，所述標(biāo)尺的前端設(shè)置有指示針；所述腔體內(nèi)設(shè)置液體介質(zhì)。2.如權(quán)利要求1所述的超聲波探傷儀探頭，其特征在于，在所述弧形刻度板的每個(gè)刻度下方對(duì)應(yīng)設(shè)置一個(gè)凹槽，所述標(biāo)尺上設(shè)置一個(gè)與凹槽對(duì)應(yīng)的凸起。3.如權(quán)利要求2所述的超聲波探傷儀探頭，其特征在于，所述凹槽和凸起均為圓形。4.如權(quán)利要求2所述的超聲波探傷儀探頭，其特征在于，所述凸起為圓球，在圓球的后方設(shè)置彈性墊。5.如權(quán)利要求4所述的超聲波探傷儀探頭，其特征在于，所述彈性墊為硅膠墊。6.如權(quán)利要求1?5中任一項(xiàng)所述的超聲波探傷儀探頭，其特征在于，所述弧形刻度板上的刻度從左到右依次為0?60度刻度線。 說明書： 超聲波探傷儀探頭技術(shù)領(lǐng)域[0001] 本實(shí)用新型涉及一種超聲波探傷儀探頭。背景技術(shù)[0002] 超聲波探傷儀能夠快速、便捷、無損傷、精確地進(jìn)行工件內(nèi)部多種缺陷(裂紋、疏松、氣孔、夾雜等)的檢測(cè)、定位、評(píng)估和診斷。在使用超聲波探傷儀時(shí)，需要根據(jù)檢測(cè)物體來選擇探頭種類，目前探頭有直探頭、斜探頭和可變角度探頭?？勺兘嵌忍筋^，允許用戶調(diào)節(jié)晶片的入射角度。可調(diào)節(jié)范圍從0度到90度，隨著晶片入射角度的改變，在被檢測(cè)的工件中產(chǎn)生相應(yīng)折射角的縱波、橫波或者表面波。[0003] 但目前的可變角度探頭內(nèi)部結(jié)構(gòu)復(fù)雜，且在調(diào)整可變角度時(shí)刻度線對(duì)齊容易產(chǎn)生誤差，影響測(cè)量結(jié)果。實(shí)用新型內(nèi)容[0004] 針對(duì)上述現(xiàn)有技術(shù)的不足，本實(shí)用新型提供了一種結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，可準(zhǔn)確調(diào)節(jié)角度的超聲波探傷儀探頭。[0005] 本實(shí)用新型解決其技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是：一種超聲波探傷儀探頭，它包括外殼、阻尼塊、吸收塊和晶片，晶片固定在阻尼塊上，在所述外殼內(nèi)設(shè)置有腔體，阻尼塊通過一根轉(zhuǎn)軸可轉(zhuǎn)動(dòng)設(shè)置在腔體內(nèi)，轉(zhuǎn)軸的一端伸出外殼后設(shè)置一個(gè)標(biāo)尺，在外殼的上方設(shè)置一個(gè)弧形刻度板，所述標(biāo)尺的前端設(shè)置有指示針；所述腔體內(nèi)設(shè)置液體介質(zhì)。[0006] 進(jìn)一步的，在所述弧形刻度板上每個(gè)刻度下方對(duì)應(yīng)設(shè)置一個(gè)凹槽，所述標(biāo)尺上設(shè)置一個(gè)與凹槽對(duì)應(yīng)的凸起。[0007] 進(jìn)一