本發(fā)明公開了一種對非揮發(fā)存儲器類產(chǎn)品進(jìn)行失效模型建模的方法,包括以下步驟:步驟一:根據(jù)非揮發(fā)存儲器類產(chǎn)品存儲區(qū)域的電路結(jié)構(gòu)和/或版圖布局的特點(diǎn),通過對非揮發(fā)存儲器的操作過程中存儲器陣列內(nèi)電路節(jié)點(diǎn)狀態(tài)的分析,建立起一張“失效模型-失效表征”真值表,該真值表由潛在的失效模型、關(guān)鍵電路模擬量輸出和失效單元位圖輸出三部分特征參數(shù)進(jìn)行描述;步驟二:使用該真值表實(shí)現(xiàn)真實(shí)失效模型的建模,然后使用建模結(jié)果指導(dǎo)物理分析定位。本發(fā)明在進(jìn)行物理分析定位前建立起失效模型,能夠使失效模型的建模具有系統(tǒng)性的特點(diǎn),并且大大提高非揮發(fā)存儲器故障點(diǎn)定位的邏輯嚴(yán)密性和精確度,從而提高失效分析的定位效率和成功率。
聲明:
“對非揮發(fā)存儲器類產(chǎn)品進(jìn)行失效模型建模的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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