本發(fā)明公開了基于G(E)函數(shù)的放射源運(yùn)輸容器γ屏蔽性能檢測(cè)方法及系統(tǒng),方法包括:S1、根據(jù)放射源運(yùn)輸容器的結(jié)構(gòu)特征和材料特征,結(jié)合屏蔽要求,建立并優(yōu)化放射源運(yùn)輸容器模型;S2、將多個(gè)標(biāo)準(zhǔn)放射源置于放射源運(yùn)輸容器內(nèi),基于放射源運(yùn)輸容器模型,建立放射源運(yùn)輸容器的γ模擬譜;S3、基于放射源運(yùn)輸容器的γ模擬譜,求解G(E)函數(shù);S4、將放射源置于放射源運(yùn)輸容器內(nèi),通過探測(cè)器獲取放射源運(yùn)輸容器的γ真實(shí)譜;S5、基于放射源運(yùn)輸容器的γ真實(shí)譜,通過G(E)函數(shù)計(jì)算得到放射源運(yùn)輸容器的γ劑量率。本發(fā)明所提供的方法及系統(tǒng),能夠準(zhǔn)確測(cè)量放射源運(yùn)輸容器外部輻射水平。
聲明:
“基于G(E)函數(shù)的放射源運(yùn)輸容器γ屏蔽性能檢測(cè)方法及系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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