柔性電路板測試電路及液晶顯示裝置 1132     

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本實用新型提供了一種柔性電路板測試電路及液晶顯示裝置，包括：與待測試柔性電路板第一端口的引腳相連的電路線；與所述電路線一端依次相連的電極線、電阻和電源，所述電極線為與所述柔性電路板第二端口相連的基板表面的連接線，所述電路線的另一端與地相接。從而可以通過檢測元件檢測所述電極線和電阻之間的電路連接線上的電平為高電平或低電平，來判斷所述閉合回路是否斷開，進一步判斷柔性電路板是否斷裂或被撕起來，以避免柔性電路板的斷裂而導(dǎo)致的產(chǎn)品功能失效。

PCB板退化和失效時間的測試方法及實驗設(shè)備 961     

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本申請?zhí)峁┝艘环NPCB板退化和失效時間的測試方法及實驗設(shè)備，該測試方法包括如下步驟：(1)按照產(chǎn)品PCB板的規(guī)格，重新制作相同的板厚、板層、BGA焊盤大小、BGA夾線線寬大小、BGA焊盤與夾線間距、PCB工藝的PCB測試板；(2)將PCB測試板置于高溫高濕環(huán)境下，根據(jù)CAF測試方法將所述PCB測試板進行高溫高濕帶電工作，使得PCB測試板BGA焊盤與夾線之間的絕緣電阻值發(fā)生變化；(3)使用電阻測試儀，對步驟(2)試驗后PCB測試板的BGA焊盤與夾線絕緣電阻值的變化進行測試；(4)通過測量得到的BGA焊盤與夾線絕緣電阻值變化數(shù)據(jù)，推算出PCB板退化和失效時間。本發(fā)明主要驗證電子產(chǎn)品PCB板BGA焊盤與夾線間距和BGA夾線線寬設(shè)計的合理性。

用于檢測線路板過孔CAF失效性的測試方法 1062     

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本發(fā)明公開了一種用于檢測線路板過孔CAF失效性的測試方法，包括：提供一個測試板，測試板的過孔大小、過孔的間距、走線的寬度，與待測試的線路板的過孔大小、過孔間距、走線寬度相同；測量測試板的過孔電阻值，為初始電阻值；將測試板放入冷熱沖擊實驗設(shè)備，并采用第一溫度和第二溫度循環(huán)實驗；取出測試板，放置室溫下靜置；使用電阻測試儀測量測試板的過孔電阻值，為實驗電阻值；直至測試的實驗電阻值與初始電阻值的變化率不低于設(shè)定閾值，推算失效時間。本發(fā)明使用測試板模擬待測試的線路板的線路狀態(tài)，并且對測試板進行冷熱沖擊實驗，得到退化失效的測試數(shù)據(jù)，推算出待測試線路板的失效和退化時間，方便優(yōu)化線路板的設(shè)計，提高產(chǎn)品的可靠性。