多氣體檢測儀
CTM2000系列彎曲試驗機主要適用于試驗負荷低于5KN的各種金屬、非金屬及復合材料進行力學性能測試和分析研究。具有應力、應變、位移三種閉環(huán)控制方式,可求出最大力、抗拉強度、彎曲強度、壓縮強度、彈性模量、斷裂延伸率、屈服強度等參數(shù)。根據(jù)GB及ISO、JIS、ASTM、DIN等國際標準進行試驗和提供檢測數(shù)據(jù)。
輸送機式金屬探測器適用于食品,醫(yī)藥、化工、紡織、玩具等行業(yè)中對產(chǎn)品進行雜質(zhì)檢測,既可用于半成品的質(zhì)量控制檢驗,也可以用作成品出廠 檢驗,特別適用于各種紙質(zhì)、塑料、玻璃等非金屬包裝的產(chǎn)品。金檢機結(jié)構(gòu)上的特殊設計可有效避免振動、噪聲和產(chǎn)品效應等,外部因素的干擾。
1.核心專利的數(shù)字化檢測技術(shù)。2.采用高精度的 SMD 貼片進口元件,減少了 PCB 面積,從而提高了產(chǎn)品的可靠性。
企事業(yè)單位需要在來料檢測、過程控制和成品檢測時快速、準確地分析金屬中的元素含里。經(jīng)濟效益是考慮重點。沒有足夠的分析準確度,生產(chǎn)設計需要付出更大成本:購買更貴的原材料以保證產(chǎn)品質(zhì)量。相反,如果可以準確測定元素含里,生產(chǎn)者可以用較小的原材料投入,精確控制產(chǎn)品質(zhì)里。微里元素分析也是決定因素。
載氣熱提取法鋁中氫分析儀用于測定樣品中的氫含量,儀器配備快速加熱的紅外爐,并配置專用的石英管用于樣品的加熱。能夠?qū)崿F(xiàn)大塊樣品的分析,采用具有專利技術(shù)的全自動氣體校準系統(tǒng),可用純氫氣或純氦氣進行校準。系統(tǒng)的核心是一個高靈敏度長期穩(wěn)定的熱導檢測器,對于高強度鋼中超低含量氫的檢測 載氣熱提取法鋁中氫分析儀符合GB/T 20975.30-2019 等國際國內(nèi)標準。
以色列ScanMaster公司是全球領先的超聲波檢測產(chǎn)品制造商,產(chǎn)品包括超聲波儀器儀表,超聲波檢測及成像系統(tǒng)和傳感器。ScanMaster產(chǎn)品適用于多個行業(yè),包括:航空航天,管材,金屬,汽車和火車軌道,車輪和車軸行業(yè)。解決方案適用于多種環(huán)境,包括實驗室和生產(chǎn)設施。ScanMaster也是汽車行業(yè)檢測系統(tǒng)的領先制造商,提供汽車生產(chǎn)線點焊的高端超聲波檢測解決方案,推出全球首臺先進的基于PC的超聲波點焊檢測系統(tǒng)UT/Mate,只需簡單地把UT/Mate通過USB串行接口就惡意鏈接到任何一臺計算機/筆記本電腦上。
IC-hope 1200系列離子色譜儀是上海佑科儀器儀表有限公司推出的離子色譜儀產(chǎn)品。可以進行抑制型或非抑制型電導檢測和安培檢測,它主機箱、全PEEK雙柱塞串聯(lián)泵、進樣閥、保護柱/分離柱、帶預熱功能柱溫箱、電解自再生抑制器、帶恒溫裝置的電導檢測器、安培檢測器和多通道數(shù)據(jù)處理及儀器控制軟件系統(tǒng)組成。
網(wǎng)絡化氣相色譜儀 GC-7860 A E?Prod 科學儀器系列之GC-7860系列網(wǎng)絡化氣相色譜儀是公司推出的一款新型數(shù)字化全控制的氣相色譜儀。儀器充分吸收了國外同類產(chǎn)品的先進技術(shù),采用了國內(nèi)行業(yè)領先的制造技術(shù)和工藝,確保儀器的可靠性和無故障運行時間。它不僅能夠最大限度地延長正常運行時間,減少維修次數(shù),并且在結(jié)構(gòu)上更加簡潔合理,簡單易學,容易操作。
Alpha-Step D-300 探針式輪廓儀支持臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力的2D 測量。光學杠桿傳感器技術(shù)提供高分辨率測量,大垂直范圍和低觸力測量功能。 探針測量技術(shù)的一個優(yōu)點是它是一種直接測量,與材料特性無關(guān)。可調(diào)節(jié)的觸力以及探針的選擇都使其可以對各種結(jié)構(gòu)和材料進行測量。通過測量粗糙度和應力,可以對工藝進行量化,確定添加或去除的材料量,以及結(jié)構(gòu)的多種變化。
ezAFM是新設計的精致型原子力顯微鏡,具有設計緊湊、美觀大方、高穩(wěn)定性、占用空間小等特點,而且軟件功能強大、操作簡單、用戶界面良好,而且價格實惠,性價比較為高。它是理想的實驗室用原子力顯微鏡,廣泛應用于高等教育、納米技術(shù)教育和基礎研究等領域。產(chǎn)品系列包括:ezAFM、ezAFM+、ezAFM AQUA、以及ezAFM-Vacuum,ezSTM除了基本的形貌等掃描,可以用于電學、磁學等拓展模式,以及液相、真空環(huán)境等。
原子力顯微鏡(Atomic Force Microscope, AFM)經(jīng)過30多年的發(fā)展后,從形貌測試及其它常規(guī)功能來看已經(jīng)非常成熟。然而常規(guī)的原子力顯微鏡也越來越無法滿足科研人員在納米尺度下對于樣品進行多性質(zhì)原位測試分析的需求,尤其在化學、光學、電學、熱學、力學等領域。 在具備常規(guī)原子力顯微鏡功能的條件下,基于光誘導力顯微鏡(Photo-induced Force Microscope, PiFM)技術(shù),結(jié)合波長可調(diào)的可見-紅外光源,從而實現(xiàn)10nm以下空間分辨可見-紅外成像與光譜采集,無需遠場光學接收器及光譜儀。 此外,VistaScope原子力顯微鏡還可以與各類拉曼光譜儀
SPRm200 表面等離子共振顯微鏡 工作原理基于表面等離子共振(SPR)技術(shù)。是將表面等離子體共振技術(shù)和光學顯微鏡巧妙結(jié)合為一體的生物傳感檢測儀。可以同時得到細胞原位明場成像、SPR成像、及SPR動力學曲線定量親和常數(shù)、結(jié)合解離常數(shù),它為免標記研究分子相互作用的領域開辟一個嶄新的前沿。專門針對細胞膜蛋白和相關(guān)分子免標記檢測而設計的SPRm200, 使您在不需要從細胞中提取和分離膜蛋白的前提下實時觀察細胞結(jié)構(gòu)并同時測量藥物和靶點在細胞上的結(jié)合過程。還可進行對藥物和在天然狀態(tài)下的膜蛋白之間相互作用的測量,高分辨SPR成像,可
NanoFlip產(chǎn)品既可以工作在真空環(huán)境下進行各種原位力學測試;也可以直接在大氣環(huán)境下測試樣品的硬度、楊氏模量或者其它物理力學性能。 NanoFlip在硬度和楊氏模量測試、連續(xù)剛度測試(CSM)、力學性能譜圖(Mapping)、納米動態(tài)力學分析(DMA)、劃痕和磨損測試、柱壓縮等測試中表現(xiàn)出色,可同時將SEM圖像與力學測試數(shù)據(jù)同步。NanoFlip還可以進行快速壓痕測量,這是在惰性環(huán)境(如手套箱)中研究非均相材料的重要手段。
KLA Candela光學表面缺陷分析儀(OSA)可對半導體及光電子材料進行先進的表面檢測。Candela系列既能夠檢測Si、砷化鎵、磷化銦等不透明基板,又能對SiC、GaN、藍寶石和玻璃等透明材料進行檢測,成為其制程中品質(zhì)管理及良率改善的有力工具。 Candela系列采用光學表面分析(OSA)專用技術(shù),可同時測量散射強度、形狀變化、表面反射率和相位轉(zhuǎn)移,為特征缺陷(DOI)進行自動偵測與分類。OSA檢測技術(shù)結(jié)合散射測量、橢圓偏光、反射測量與光學形狀分析等基本原理,以非破環(huán)性方式對Wafer表面的殘留異物,表面與表面下缺陷,形狀變化和薄膜厚度
Filmetrics的薄膜電阻測量設備開發(fā)源自于有著超過30年經(jīng)驗的KLA的薄膜電阻計量技術(shù),并由20年臺式測量設備開發(fā)經(jīng)驗的Filmetrics團隊完善了桌面式方塊電阻測量產(chǎn)品。KLA薄膜電阻測量技術(shù)包括接觸(4PP)和非接觸(EC)方法。 Filmetrics的R50系列方塊電阻測量儀器可測量沉積在多種基材上的導電片和薄膜,跨越10個數(shù)量級范圍電阻率,包括:半導體晶圓基板、玻璃基板、塑料(柔性)基材、PCB圖案特征、太陽能電池、平板顯示層和圖案化特征、金屬箔
Desk V樣品制備系統(tǒng)配制用于蒸發(fā)和濺射,是一種高生產(chǎn)率的解決方案,可提供卓越、一致和高度可重復的結(jié)果。 Desk V鍍膜系統(tǒng)提供兩種版本:Desk V HP和Desk V TSC。Desk V TSC,是渦輪分子泵濺射鍍膜機選項,專為高分辨率顯微鏡樣品設計,適用于氧化和非氧化金屬。Desk V磁控濺射裝置精確沉積導電鍍膜,其熱蒸發(fā)選項可以沉積薄碳層(使用棒材或紗線)。
Alpha-Step D-300 探針式輪廓儀支持臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力的2D 測量。光學杠桿傳感器技術(shù)提供高分辨率測量,大垂直范圍和低觸力測量功能。 探針測量技術(shù)的一個優(yōu)點是它是一種直接測量,與材料特性無關(guān)??烧{(diào)節(jié)的觸力以及探針的選擇都使其可以對各種結(jié)構(gòu)和材料進行測量。通過測量粗糙度和應力,可以對工藝進行量化,確定添加或去除的材料量,以及結(jié)構(gòu)的多種變化。
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