本發(fā)明提供一種熱電應(yīng)力下的Flash存儲(chǔ)器擦寫性能評(píng)價(jià)方法，步驟如下：一：Flash存儲(chǔ)器初篩，對(duì)器件樣品做一次全片擦寫讀測(cè)試，剔除已失效的器件；二：選擇擦寫測(cè)試算法，選擇試驗(yàn)溫度分組，模擬不同強(qiáng)度的環(huán)境應(yīng)力；三：進(jìn)行擦寫循環(huán)試驗(yàn)，記錄各溫度組的讀出數(shù)據(jù)錯(cuò)誤數(shù)量，器件全部失效或到達(dá)預(yù)設(shè)試驗(yàn)時(shí)間試驗(yàn)停止；四：篩選試驗(yàn)數(shù)據(jù)，計(jì)算各溫度組的平均無故障工作時(shí)間θ；五：計(jì)算環(huán)境溫度與該溫度平均無故障工作時(shí)間函數(shù)關(guān)系；六：求出常溫下平均無故障工作時(shí)間；七：根據(jù)擦寫循環(huán)試驗(yàn)中，單次循環(huán)所用時(shí)間和擦寫次數(shù)，計(jì)算常溫下耐擦寫次數(shù)；八：與該型號(hào)器件理論耐擦寫次數(shù)比較，評(píng)價(jià)該批次器件擦寫性能是否滿足要求；通過以上步驟，可以利用擦寫次數(shù)評(píng)價(jià)Flash存儲(chǔ)器的擦寫性能，減少試驗(yàn)時(shí)間，為Flash存儲(chǔ)器測(cè)試與評(píng)價(jià)提供充分的可靠性依據(jù)，具有實(shí)際推廣應(yīng)用價(jià)值。