本發(fā)明提供了一種疲勞曲線標(biāo)定方法及可讀存儲(chǔ)介質(zhì)。其中,所述疲勞曲線標(biāo)定方法包括如下步驟:獲取預(yù)設(shè)測(cè)試條件下的測(cè)試數(shù)據(jù),所述測(cè)試數(shù)據(jù)包括具有對(duì)應(yīng)關(guān)系的電壓等級(jí)和壽命時(shí)長(zhǎng);線性化預(yù)設(shè)壽命函數(shù)表達(dá)式;基于所述測(cè)試數(shù)據(jù)擬合線性化后的所述預(yù)設(shè)壽命函數(shù)表達(dá)式,得到第一待定系數(shù);以及,所述第一待定系數(shù)代入所述預(yù)設(shè)壽命函數(shù)表達(dá)式得到期望壽命曲線?;谒銎谕麎勖€,設(shè)計(jì)人員可以估計(jì)特定元件在實(shí)際工況中的失效概率和預(yù)期使用壽命,解決了現(xiàn)有技術(shù)中存在的特定元件的失效概率和/或預(yù)期使用壽命不清楚的問題。
聲明:
“疲勞曲線標(biāo)定方法及可讀存儲(chǔ)介質(zhì)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)