本發(fā)明公開了一種基于寬尺度范圍的納米聲學(xué)效應(yīng)研究方法，包括以下步驟：一、不同尺度的微納聲學(xué)器件的制作；二、不同尺度的微納聲學(xué)器件的參數(shù)測(cè)試；三、不同尺度的微納聲學(xué)器件宏觀聲學(xué)理論計(jì)算值的獲取及參數(shù)相對(duì)誤差獲取；四、宏觀聲學(xué)理論失效判斷及微觀分子動(dòng)力學(xué)理論對(duì)納米尺度聲學(xué)器件參數(shù)計(jì)算。本發(fā)明步驟簡(jiǎn)單，在4nm～4000nm的寬尺度范圍內(nèi)研究納米聲學(xué)效應(yīng)，并對(duì)制作的不同尺度的微納聲學(xué)器件的參數(shù)進(jìn)行測(cè)試，獲取宏觀聲學(xué)理論失效時(shí)微納聲學(xué)器件所對(duì)應(yīng)的失效波長(zhǎng)閾值，且將在4nm～失效波長(zhǎng)閾值范圍內(nèi)，采用基于分子動(dòng)力學(xué)理論獲取納米尺度聲學(xué)器件的參數(shù)，便于高頻化和集成化納米尺度聲學(xué)器件設(shè)計(jì)。