本發(fā)明公開了一種包含機械應(yīng)力加速的壓接式絕緣柵雙極型晶體管高溫反偏試驗方法,通過加大壓接式IGBT器件的夾持力,將原先需要1000h的壓接式IGBT器件高溫反偏試驗時間縮短到了197.64h,極大縮短了試驗時間。將IGBT器件放置在恒溫箱中,溫度恒定在150℃;同時向集電極和發(fā)射極之間施加電壓V
CE(取最大電壓V
CE?max的80%);柵極電壓V
GE保持為零;同時施加機械壓力,使機械壓強P
test保持在2Gpa。持續(xù)197.64h后,降溫至室溫,撤去電壓和外加的機械壓力,再按照國際標準IEC60747?9(2007)中規(guī)定的晶體管參數(shù)檢測方法和耐受試驗失效標準,診斷該器件是否失效。
聲明:
“包含機械應(yīng)力加速的壓接式絕緣柵雙極型晶體管高溫反偏試驗方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)