本發(fā)明公開(kāi)一種航天電子產(chǎn)品的空間輻射可靠性評(píng)估方法,該方法包括故障物理分析、建立空間輻射相關(guān)故障信息矩陣并分類收集所述物理模型的參數(shù)、單粒子效應(yīng)仿真、總劑量效應(yīng)仿真、位移損傷效應(yīng)仿真、以及考慮空間故障機(jī)理間的相互關(guān)系,分析單粒子效應(yīng)、總劑量效應(yīng)和位移損傷效應(yīng)單獨(dú)作用下的被測(cè)器件仿真壽命,獲得被測(cè)器件在空間輻射環(huán)境效應(yīng)共同作用下的失效壽命。本發(fā)明是從故障機(jī)理的角度,針對(duì)航天電子產(chǎn)品空間輻射相關(guān)的可靠性展開(kāi)研究,提出一套基于仿真分析的評(píng)估航天電子產(chǎn)品空間輻射可靠性的方法,使設(shè)計(jì)者能夠在設(shè)計(jì)階段就對(duì)產(chǎn)品的空間輻射可靠性水平直觀了解,從而為產(chǎn)品的設(shè)計(jì)改進(jìn)提供參考依據(jù)。
聲明:
“航天電子產(chǎn)品的空間輻射可靠性評(píng)估方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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