本公開(kāi)涉及用于電子設(shè)備的藍(lán)寶石組件的聲學(xué)測(cè)試。在一些實(shí)施例中,公開(kāi)了用于對(duì)電子設(shè)備的制造中所使用的藍(lán)寶石部件(諸如顯示器蓋板)中的結(jié)構(gòu)性瑕疵進(jìn)行測(cè)試的方法。該方法可包括將破壞性聲學(xué)信號(hào)發(fā)送到藍(lán)寶石部件上,以及確定藍(lán)寶石部件是否響應(yīng)于破壞性信號(hào)而失效。破壞性聲學(xué)信號(hào)可包括瑞利聲波,其中如果藍(lán)寶石部件具有大于指定尺寸的表面瑕疵,則破壞性聲學(xué)信號(hào)使該藍(lán)寶石部件破碎。采用這種方式,僅可經(jīng)受破壞性聲學(xué)信號(hào)的藍(lán)寶石部件可以在電子設(shè)備的制造中使用。
聲明:
“用于電子設(shè)備的藍(lán)寶石組件的聲學(xué)測(cè)試” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)