本實(shí)用新型公開了一種元器件綜合
檢測(cè)儀,包括機(jī)殼,所述機(jī)殼一側(cè)設(shè)有測(cè)試面板,所述測(cè)試面板頂部一端設(shè)有顯示電源和工作電源,所述測(cè)試面板一端設(shè)有綜合信號(hào)、模擬輸入、模擬輸出和模擬信號(hào),所述測(cè)試面板中部設(shè)有測(cè)試通道,且測(cè)試通道共設(shè)有三個(gè),所述測(cè)試面板另一端設(shè)有測(cè)試電源和測(cè)試信號(hào)燈。元器件綜合檢測(cè)儀主機(jī)內(nèi)部的硬件電路大量采用CPLD可編程高集成技術(shù),具有80路數(shù)字通道/160路VI曲線通道/28路模擬功能通道,多路可擴(kuò)展端子通道,配合系統(tǒng)軟件檢測(cè)程序。能夠針對(duì)元器件特定失效模式專門構(gòu)建具體型號(hào)的篩選模型,從而建立大量元器件篩選庫(kù),對(duì)各種電子元器件提供有效便捷的檢測(cè)手段。
聲明:
“元器件綜合檢測(cè)儀” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)