一種用于高合格率工業(yè)數(shù)據(jù)分析的篩選方法及系統(tǒng)。該篩選方法包括:步驟S1,利用數(shù)據(jù)采集模塊從工業(yè)生產(chǎn)過(guò)程中采集與分析對(duì)象相關(guān)聯(lián)的關(guān)鍵信息數(shù)據(jù);步驟S2,利用數(shù)據(jù)存儲(chǔ)模塊將收集到的關(guān)鍵信息數(shù)據(jù)存儲(chǔ)在服務(wù)器中;步驟S3,利用數(shù)據(jù)篩選模塊對(duì)存儲(chǔ)的關(guān)鍵信息數(shù)據(jù)進(jìn)行篩選,并將篩選出來(lái)的最有價(jià)值的子空間數(shù)據(jù)集轉(zhuǎn)存到數(shù)據(jù)分析模塊;步驟S4,利用數(shù)據(jù)分析模塊分析最有價(jià)值的子空間數(shù)據(jù)集與各個(gè)已采集因子的相關(guān)規(guī)律。如此,可從大量無(wú)規(guī)律數(shù)據(jù)中篩選出與現(xiàn)有已采集因子強(qiáng)相關(guān)的子空間數(shù)據(jù)集,通過(guò)研究子空間數(shù)據(jù)集與各個(gè)已采集因子的相關(guān)規(guī)律,以便于發(fā)現(xiàn)可改善的工藝點(diǎn),從而加快工業(yè)生產(chǎn)超高合格率情況下的失效原因快速分析、定位及工藝改善。
聲明:
“用于高合格率工業(yè)數(shù)據(jù)分析的篩選方法及系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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