本發(fā)明涉及一種集成電路老化失效預(yù)警方法及電路，該方法包括：對(duì)載體電路和預(yù)警電路進(jìn)行老化仿真，獲取載體電路失效時(shí)預(yù)警電路的檢測(cè)結(jié)果，取小于檢測(cè)結(jié)果的值作為失效閾值；將載體電路和預(yù)警電路置于同一老化環(huán)境中，按照預(yù)設(shè)的檢測(cè)頻率定期檢測(cè)，獲取預(yù)警電路的檢測(cè)結(jié)果；將檢測(cè)結(jié)果與失效閾值進(jìn)行比較，若檢測(cè)結(jié)果大于或等于失效閾值，則判定載體電路即將老化失效，并產(chǎn)生預(yù)警信號(hào)；其中，檢測(cè)結(jié)果為預(yù)警電路中第一環(huán)形振蕩器與第二環(huán)形振蕩器的頻率差值，第一環(huán)形振蕩器與載體電路保持同步老化，第二環(huán)形振蕩器保持不被老化。本發(fā)明的方法，可以實(shí)現(xiàn)對(duì)載體電路老化失效情況進(jìn)行有效預(yù)警。