本發(fā)明提供一種工業(yè)CT偽影校正方法,包括步驟:基于正投影法獲得偽影場(chǎng),對(duì)其進(jìn)行閾值分割獲得包含被測(cè)對(duì)象及受偽影強(qiáng)干擾的背景區(qū)域S(x,y);實(shí)際CT圖像Q(x,y)除去S(x,y)得到偽影弱干擾背景圖像G(x,y),獲取其灰度直方統(tǒng)計(jì)圖中最大峰值的灰度值;Q(x,y)中包括S(x,y)得到前景及偽影強(qiáng)干擾背景圖像H(x,y),獲取[0,T]的最佳擬合高斯曲線(xiàn);計(jì)算其概率密度函數(shù)并歸一化處理;統(tǒng)計(jì)分析Q(x,y)中每個(gè)像素點(diǎn)的局部灰度,獲取占比灰度值最大的灰度,計(jì)算其對(duì)應(yīng)的歸一化概率密度函數(shù);對(duì)受偽影強(qiáng)干擾的背景區(qū)域灰度值校正及對(duì)Q(x,y)各個(gè)灰度值校正,與現(xiàn)有技術(shù)相比,本校正方法在針對(duì)單一材料復(fù)雜內(nèi)部結(jié)構(gòu)工件的CT掃描時(shí),能有效降低偽影引起的灰度差異,實(shí)現(xiàn)精確、可靠、無(wú)損測(cè)量其內(nèi)部結(jié)構(gòu)尺寸。
聲明:
“工業(yè)CT偽影校正方法” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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