本發(fā)明公開了一種基于灰度特征的輻射源位置驗(yàn)證方法。屬于放射治療、工業(yè)無損檢測等核能與核技術(shù)應(yīng)用領(lǐng)域,具體步驟:根據(jù)輻射源輪廓點(diǎn)坐標(biāo)、輻射源與等中心點(diǎn)距離信息、輻射源與探測裝置距離信息獲取輻射源到探測裝置上的輪廓點(diǎn)坐標(biāo)系列;當(dāng)輻射源進(jìn)行輻射時,通過安裝的探測裝置對穿過被輻射模體的輻射場進(jìn)行測量,得到透射輻射場分布;對測量得到的透射輻射場分布進(jìn)行降噪處理,得到降噪后的透射輻射場分布;對降噪后透射輻射場分布進(jìn)行處理,獲得該輻射場輪廓點(diǎn)信息,與輪廓點(diǎn)坐標(biāo)進(jìn)行比較,獲得輻射源位置偏移參數(shù)。本發(fā)明可對輻射源進(jìn)行高效精確的位置驗(yàn)證,從而有效保證輻射的準(zhǔn)確實(shí)施。
聲明:
“基于灰度特征的輻射源位置驗(yàn)證方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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