一種基于超聲TOFD的近表面缺陷識(shí)別方法,涉及超聲波無損檢測領(lǐng)域,本發(fā)明為解決現(xiàn)有超聲TOFD檢測技術(shù)存在對(duì)表面及近表面缺陷不敏感的問題,以及現(xiàn)有硬件技術(shù)需要附加檢測設(shè)備,軟件技術(shù)數(shù)據(jù)處理過程復(fù)雜、耗時(shí)長、存在對(duì)側(cè)向波抑制不完全及損傷近表面缺陷信號(hào)的問題。其過程為:根據(jù)被檢測體的厚度和探頭的角度,選擇探頭間距,使發(fā)射探頭激發(fā)的縱波主軸聲束在被檢測體中沿W形聲路傳播后被另一探頭接收。利用選定的探頭間距,對(duì)被檢測體進(jìn)行A掃描,根據(jù)獲得的A掃描信號(hào),對(duì)被檢測體進(jìn)行D掃描和B掃描,分別獲得D掃描圖像和B掃描圖像,實(shí)現(xiàn)缺陷識(shí)別并獲得缺陷的長度及埋藏深度信息,本發(fā)明廣泛應(yīng)用于超聲波無損檢測領(lǐng)域。
聲明:
“基于超聲TOFD的近表面缺陷識(shí)別方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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