一種微帶測(cè)試納米薄膜微波電磁參數(shù)裝置，涉及材料電磁參數(shù)的檢測(cè)。設(shè)有微帶夾具、微波矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀、GPIB數(shù)據(jù)采集卡、計(jì)算機(jī)；微帶夾具由L型底座、上導(dǎo)帶、可調(diào)短路片、SMA連接頭、屏蔽罩和固定平臺(tái)構(gòu)成；L型底座一端設(shè)圓孔，另一端設(shè)臺(tái)階；可調(diào)短路片兩端開(kāi)槽；SMA連接頭安裝于L型底座上，SMA連接頭與微波矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的同軸電纜連接，被測(cè)納米薄膜樣品放置位置為輸入端與可調(diào)短路片的中心位置；微帶夾具鎖定在固定平臺(tái)上，固定平臺(tái)的四角裝有高度可調(diào)的支撐桿，固定平臺(tái)面上均勻刻上標(biāo)有刻度的一組水平線，在固定平臺(tái)上鎖定兩片彈簧卡片，兩片彈簧卡片分別放置在微帶夾具的終端與側(cè)面。測(cè)量精確、無(wú)損傷、操作簡(jiǎn)便。