本發(fā)明涉及一種陶瓷基
復(fù)合材料的太赫茲無(wú)損檢測(cè)方法可包括下列步驟:S1、建立穩(wěn)定的太赫茲無(wú)損檢測(cè)成像測(cè)試系統(tǒng);S2、應(yīng)用步驟S1建立的太赫茲無(wú)損檢測(cè)成像測(cè)試系統(tǒng)對(duì)由陶瓷基復(fù)合材料制成的試樣進(jìn)行太赫茲無(wú)損檢測(cè)成像測(cè)試;S3、對(duì)步驟S2得到的試樣太赫茲圖像進(jìn)行后期處理,以識(shí)別出試樣的缺陷。本發(fā)明通過(guò)對(duì)成像模式的調(diào)節(jié)和后期的太赫茲圖像處理,可以有效地對(duì)陶瓷基復(fù)合材料內(nèi)部及表面不同深度和寬度的缺陷進(jìn)行無(wú)損檢測(cè)。
聲明:
“陶瓷基復(fù)合材料的太赫茲無(wú)損檢測(cè)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)