本發(fā)明公開了一種用X熒光光譜法測定蛇紋石中二氧化硅、氧化鎂、三氧化二鋁含量的方法。與現(xiàn)有的檢測技術(shù)相比較,本發(fā)明采用X射線熒光光譜法,克服了原有濕法化學(xué)分析方法操作復(fù)雜,分析時間長、使用試劑量大,易對環(huán)境造成污染等缺陷,實現(xiàn)了多元素同時測定,試劑用量少,操作安全環(huán)保的技術(shù)突破,具有分析速度快,樣品熔融玻璃片保留時間長,分析精密度、準(zhǔn)確度高,適合鋼鐵企業(yè)生產(chǎn)過程中現(xiàn)場快速分析的需求。
聲明:
“X射線熒光光譜法測定蛇紋石化學(xué)成分的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)