本發(fā)明公開了一種航天器器件位移損傷劑量探測方法,屬于核技術(shù)中的輻射探測技術(shù)領(lǐng)域。首先使用輻射源對集成有LED與PD的光電耦合器進(jìn)行刻度,獲得歸一化時光電耦合器的電流傳輸比倒數(shù)的增量與位移損傷劑量的響應(yīng)曲線。然后用地面位移損傷效應(yīng)測試評估輻射源對光電耦合器進(jìn)行輻照,獲得光電耦合器電流傳輸比倒數(shù)的增量。根據(jù)具體輻照時光電耦合器電流傳輸比倒數(shù)的增量,響應(yīng)曲線中查找出與之對應(yīng)的位移損傷劑量值,即可探測出此時的位移損傷劑量。本發(fā)明克服了通常試驗?zāi)M源非理想單能及次級輻射的影響;相比現(xiàn)有的僅用LED做位移損傷探測,測試系統(tǒng)簡單實用,消除了光學(xué)耦合引入的誤差。
聲明:
“一種航天器器件位移損傷劑量探測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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