本發(fā)明涉及一套低溫激光掃描雙聚焦顯微系統(tǒng)的設(shè)計和制作。該設(shè)計和制作包括五個主要部分:I外場輸入;II低溫致冷腔;III光子收集;IV光譜/單光子檢測;V系統(tǒng)自動控制。系統(tǒng)主要技術(shù)性能指標(biāo)包括:①真空極限熒光收集率;②振幅≤10納米;③平移精度≤10納米;④氦氣閉循環(huán)制冷;⑤最低溫度4K,穩(wěn)定性≤0.01K;⑥多外場同步激發(fā)。⑦~10納米分辨率;⑧電學(xué)/光學(xué)測量;⑨外光路可擴展性。本發(fā)明的優(yōu)點在于該套系統(tǒng)從光子收集率、三維平移精度、抗振動度、以及擴展性應(yīng)用上都能達(dá)到同類國際頂級水平。能夠為量子點、
半導(dǎo)體材料、微生物單分子等的量子光學(xué)、調(diào)控、光電和電學(xué)低溫/常溫測試等提供一套高效高精度低溫顯微測試平臺。
聲明:
“高效高精度低溫激光掃描雙聚焦顯微系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)