本發(fā)明提供了一種無(wú)線座充IPT測(cè)試方法,包括如下步驟:S1、將待測(cè)產(chǎn)品水平放入載具中,給所述待測(cè)產(chǎn)品供電,所述待測(cè)產(chǎn)品發(fā)出磁場(chǎng);S2、第一PCB板接收所述待測(cè)產(chǎn)品發(fā)出的磁場(chǎng),轉(zhuǎn)化為交流電信號(hào);S3、所述交流電信號(hào)由第二PCB板整流,轉(zhuǎn)換為直流電信號(hào);S4、將所述直流電信號(hào)接入第三PCB板,提取所需的精準(zhǔn)電流電壓。本發(fā)明還提供了一種無(wú)線座充IPT測(cè)試裝置,通過(guò)控制單片機(jī)控制恒流源電子負(fù)載和16位數(shù)字萬(wàn)用表并提取所需的精準(zhǔn)電流電壓,為測(cè)試人員在對(duì)無(wú)線座充的性能檢測(cè)時(shí)提供參考數(shù)據(jù),從而對(duì)各個(gè)不同型號(hào)的無(wú)線座充的充電性能做出準(zhǔn)確的評(píng)價(jià)。
聲明:
“一種無(wú)線座充IPT測(cè)試方法及裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)