本發(fā)明公開(kāi)了一種液晶顯示模組偏光片剝離的撕片檢測(cè)系統(tǒng)及方法,所述檢測(cè)系統(tǒng)包括偏光片模型建立模塊、偏光片性能檢測(cè)模塊和偏光片評(píng)價(jià)模塊,所述偏光片模型建立模塊用于建立偏光片的正常模型和非正常模型,所述偏光片性能檢測(cè)根據(jù)偏光片的正常模型和非正常模型,判斷剝離的偏光片是否合格,所述偏光片評(píng)價(jià)模塊根據(jù)剝離的偏光片的合格情況,判斷是否需要對(duì)剝離偏光片的加工機(jī)器進(jìn)行檢修,所述偏光片模型建立模塊包括正常模型模塊、劃痕模型模塊和壓痕模型模塊,所述正常模型模塊用于訓(xùn)練偏光片的正常模型,并存儲(chǔ)偏光片正常模型的特征,所述劃痕模型模塊用于訓(xùn)練偏光片的劃痕模型,并存儲(chǔ)偏光片劃痕模型的特征。
聲明:
“一種液晶顯示模組偏光片剝離的撕片檢測(cè)系統(tǒng)及方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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