本發(fā)明提供的一種基于電子元件性能數(shù)據(jù)的檢測方法及系統(tǒng),涉及數(shù)據(jù)處理技術(shù)領(lǐng)域。在本發(fā)明中,基于獲取的性能檢測設(shè)備對多個待檢測的電子元件分別進行的多次性能檢測處理得到的多組性能檢測數(shù)據(jù)進行解析處理,得到每一個電子元件的性能是否存在異常的解析結(jié)果;針對每一個電子元件,基于該電子元件對應(yīng)的解析結(jié)果,確定將該電子元件對應(yīng)的一組性能檢測數(shù)據(jù)作為訓(xùn)練樣本的類型;基于獲取到的分別作為正訓(xùn)練樣本和負訓(xùn)練樣本的多組性能檢測數(shù)據(jù)對預(yù)先構(gòu)建的神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型進行訓(xùn)練,得到對應(yīng)的電子元件性能檢測模型。采用以上步驟對性能檢測數(shù)據(jù)進行處理,可以提高對電子元件的性能是否存在異常的檢測精度。
聲明:
“一種基于電子元件性能數(shù)據(jù)的檢測方法及系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)