本實用新型公開了一種光纖型光源光斑性能檢測裝置,包括檢測接口、光纖接口和透鏡組件,還包括CMOS傳感器、多路開關、控制器和圖像處理模塊,所述一個檢測接口通過多路光纖通道分別連多個光纖接口,每個光纖接口依次連接透鏡組件和CMOS傳感器,所述多個CMOS傳感器與一個多路開關連接,所述多路開關分別連接控制器和圖像處理模塊,本實用新型通過采用CMOS傳感器采集透鏡組件整形后輸出的光束,圖像處理模塊對已獲得的圖像信號進行減去參考暗電流信號的預處理,將數(shù)據(jù)傳輸至光譜儀進行分析與處理,在光斑性能的檢測中降低了設備成本,減少了設備工作量,提高了檢測精度,極大提高了光斑性能檢測的效率。
聲明:
“一種光纖型光源光斑性能檢測裝置” 該技術專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
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