Phenom ProX 飛納臺式掃描電鏡能譜一體機(jī)同時具備樣品表面微觀形貌觀測和表面元素成分點、線、面分析。原飛利浦*科學(xué)家 Karel.Mast 教授攜手荷蘭飛納,*將電鏡和能譜在生產(chǎn)環(huán)節(jié)集成在一臺設(shè)備中,后期通過一個軟件平臺控制操作,用戶只需要熟悉一個軟件就能同時操控兩項功能,也變得相對簡單快速。
Phenom ProX 電鏡能譜一體榮獲 2012 年新產(chǎn)品獎,是掃描電鏡能譜行業(yè)的一個里程碑。亮度 10 倍于鎢燈絲 CeB6 燈絲不僅使 Phenom ProX 電鏡能譜一體機(jī)提供高分辨率,同時也使得表面元素分析更加準(zhǔn)確快速。背散射電子圖像用不同的灰度呈現(xiàn)出不同的元素,Phenom ProX 配備的 SDD X 射線探頭,定性半定量探測 5-98 號元素的點、線、面分布。
Phenom ProX 電鏡能譜一體機(jī)具有飛納系列全自動操作、15 秒快速抽真空、不噴金觀看絕緣體、2-3 年更換燈絲等特點,無需防震環(huán)境,可放置在任意樓層,能譜無外接部件,無需液氮冷卻。