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> 變溫霍爾效應儀(物理實驗儀器)
產(chǎn)品詳情介紹
霍爾效應的測量是開展半導體研究的重要方法。本機利用計算機的數(shù)據(jù)采集和處理在80K-380K溫度范圍內(nèi)對霍爾系數(shù)和電導率的聯(lián)系測量,進行半導體電機制及散射機制的研究,并可確定半導體的一些基本參數(shù),如導電類型、載流子濃度、遷移率、禁帶寬度以及雜質(zhì)電離能等。
型號規(guī)格: HT-648
技術(shù)指標:
標題:變溫霍爾效應儀(物理實驗儀器)