工作原理

PJ-A3000系列采用雙遠(yuǎn)心平行光路設(shè)計：高亮度LED光源（波長470nm±5nm）發(fā)射的光線經(jīng)準(zhǔn)直鏡組轉(zhuǎn)化為平行光束，穿透被測工件后，由超高分辨率CMOS傳感器（1200萬像素，像素尺寸1.1μm）捕獲1:1無畸變圖像；系統(tǒng)內(nèi)置超景深合成算法（景深擴(kuò)展至5mm），通過多焦點(diǎn)圖像疊加技術(shù)消除微小工件表面凹凸不平導(dǎo)致的成像模糊；亞像素邊緣提取算法（精度0.00005mm）結(jié)合自動對焦模塊（分辨率0.1μm），可精準(zhǔn)識別0.01mm級微細(xì)結(jié)構(gòu)（如芯片引腳寬度、光纖端面直徑）；測量數(shù)據(jù)通過千兆以太網(wǎng)實時傳輸至PC端軟件，支持幾何元素（點(diǎn)、線、圓、?。M合、形位公差（直線度、圓度、同軸度）分析及CAD圖紙比對，測量結(jié)果可導(dǎo)出為DXF/IGES格式，兼容主流三維建模軟件。

應(yīng)用范圍

覆蓋多行業(yè)微小工件檢測場景：電子制造（SMT貼片元件尺寸、PCB微孔直徑）、半導(dǎo)體封裝（芯片鍵合線弧高、BGA焊球間距）、精密機(jī)械（鐘表齒輪齒形、醫(yī)療器械微針直徑）及光學(xué)通信（光纖連接器端面角度、激光晶體晶向）等，尤其適合測量透明/反光材料（如玻璃、陶瓷）、易變形材料（如塑料薄膜）或復(fù)雜曲面（如手機(jī)攝像頭模組鏡片）；支持與顯微鏡聯(lián)用擴(kuò)展至納米級測量，適配實驗室級高精度檢測需求；可選配自動化上下料模塊，實現(xiàn)微小工件批量檢測，單件測量時間＜1.5秒。

技術(shù)參數(shù)

測量范圍：30mm×20mm（可擴(kuò)展至60mm×40mm）；分辨率：0.0001mm；重復(fù)性：±0.00008mm；物鏡放大倍率：50X/100X/200X（可選）；光源壽命：＞80000小時；載物臺行程：X/Y軸25mm×15mm，Z軸10mm；載物臺承重：0.5kg；工作溫度：15℃~35℃；工作濕度：20%~70%RH（無冷凝）；電源：DC24V±5% 2A；重量：18kg（主機(jī)）；防護(hù)等級：IP20；兼容軟件：AutoCAD、SolidWorks、Metrolog X4。

產(chǎn)品特點(diǎn)

全系列通過日本JIS B7431計量認(rèn)證，雙遠(yuǎn)心物鏡消除測量畸變，邊緣檢測精度較傳統(tǒng)投影儀提升80%；超景深合成技術(shù)實現(xiàn)復(fù)雜曲面無模糊成像，單次掃描可覆蓋0.5mm級高度差；AI圖像處理算法自動識別工件類型并匹配最佳測量參數(shù)，操作門檻降低60%；模塊化設(shè)計支持物鏡、光源快速更換，適配不同尺寸微小工件檢測需求；配備防振動隔離支架，可有效過濾0.5Hz以上低頻振動，確保測量數(shù)據(jù)穩(wěn)定性。PJ-A3000系列以“實驗室級精度、生產(chǎn)線級效率”的特性，成為微小工件光學(xué)檢測的標(biāo)桿設(shè)備。