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> 太陽能組件IV測試儀
設(shè)備介紹:
CT-1000系列高效太陽能組件IV測試儀為直射光結(jié)構(gòu),可根據(jù)現(xiàn)場環(huán)境實(shí)現(xiàn)上打光/側(cè)打光安裝模式,模擬真實(shí)太陽光照射條件。設(shè)備滿足行業(yè)頂級光譜標(biāo)準(zhǔn):A+A+A+性能;不均勻度、光譜匹配度、光強(qiáng)穩(wěn)定度三大核心性能指標(biāo)均超過行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。
全光譜:光譜范圍滿足300-1200nm,實(shí)現(xiàn)高效晶硅電池的全光譜測試,測試準(zhǔn)確性大幅提高。太陽電池組件采用四線連接,以及高速數(shù)據(jù)采集系統(tǒng),確保了太陽電池電流測量的準(zhǔn)確性。紅外無接觸式測溫,準(zhǔn)確測出組件溫度,確保了溫度修正的準(zhǔn)確性。
測試對象:適用于晶體硅太陽能電池組件(PERC、N型、TOPcon以及HJT等)、支持MBB、半片、疊片等組件、支持薄膜電池組件的電性能參數(shù)的測試和結(jié)果記錄及導(dǎo)出。
設(shè)備特點(diǎn):
A+A+A+標(biāo)準(zhǔn):高于IEC60904-92020標(biāo)準(zhǔn)
300-1200NM全光譜:更加真實(shí)反映組件在各波段響應(yīng)能力
電子負(fù)載:掃描方向支持ISC→VOC,和VOC→ISC兩種模式
測量對象:PERC、N型、HJT、IBC、TOPCON、
CIGS、普通晶硅等技術(shù)組件
輻照度:調(diào)節(jié)范圍可定制,最低至200W/M2
長脈沖:10-100MS(可調(diào))