本發(fā)明公開了一種磁盤生命周期分析方法及裝置，所述方法包括：獲取目標(biāo)磁盤的監(jiān)控指標(biāo)信息；根據(jù)監(jiān)控指標(biāo)信息，生成目標(biāo)磁盤的磁盤磨損率變化曲線；根據(jù)目標(biāo)磁盤的磁盤磨損率變化曲線，以及歷史的磁盤生命周期數(shù)據(jù)，分析目標(biāo)磁盤的失效時間。采用本方案，可實現(xiàn)對磁盤失效時間的自動化預(yù)測，避免因磁盤故障造成的數(shù)據(jù)丟失或損壞問題，提高磁盤性能的測試效率，大大降低人力成本；并且，本方案實施過程簡單易行，適于大規(guī)模應(yīng)用及實施。