一種電光晶體通光面法線與晶體光軸的夾角測量裝置和方法，該裝置中的主要元件包括：線偏振光激光器、第一透鏡、小孔光闌、第二透鏡、分光鏡、平面反射鏡、接收屏、第三透鏡、一維精密電動位移臺、第四透鏡、線偏振片、第五透鏡、圖像探測器和計算機(jī)，裝調(diào)光路須用到數(shù)字光電自準(zhǔn)直儀和一塊平行度為1″的平行平板玻璃等。本發(fā)明實現(xiàn)了待測電光晶體非接觸式無損檢測，克服了現(xiàn)有方法中的晶體易產(chǎn)生劃痕、測量裝置難以搭建和錐光干涉圖難以分析等一系列問題。本發(fā)明更換不同F(xiàn)數(shù)的第三透鏡和第四透鏡，可對不同厚度的電光晶體進(jìn)行測量。本發(fā)明測量的數(shù)據(jù)重復(fù)性很好，與現(xiàn)有的X射線晶體定向儀測量的數(shù)據(jù)進(jìn)行比較，相對誤差在30″以內(nèi)。