本申請公開了一種超導(dǎo)薄膜的參數(shù)測量裝置。該參數(shù)測量裝置包括:腔室,腔室的底部用于對超導(dǎo)薄膜提供機械支撐;互感線圈,用于向超導(dǎo)薄膜提供磁場并采集表征超導(dǎo)薄膜的磁穿透深度的測量信號;以及位于腔室內(nèi)的第一電極和第二電極,第二電極用于與超導(dǎo)薄膜電連接,其中,在磁性測量模式下,腔室內(nèi)填充有離子液體,離子液體至少覆蓋第一電極和超導(dǎo)薄膜,從而參數(shù)測量裝置通過調(diào)整第一電極和第二電極之間的柵壓控制離子液體,以調(diào)整超導(dǎo)薄膜的化學(xué)組分。該參數(shù)測量裝置可以提高超導(dǎo)薄膜參數(shù)測量的效率和準(zhǔn)確性。
聲明:
“超導(dǎo)薄膜的參數(shù)測量裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)