一種用于當至少一個樣品(108)受到入射激發(fā)輻射激發(fā)時,探測來自所述至少一個樣品(108)的發(fā)光的探測系統(tǒng)(100、150、180、200、220、250)。探測發(fā)光能夠探測例如生物、化學(xué)或生化顆粒。探測系統(tǒng)(100、150、180、200、220、250)包括具有至少第一表面(104)的至少一個光學(xué)部件(102)。將至少一個光學(xué)部件(102)的第一表面(104)定位為對入射激發(fā)輻射進行內(nèi)反射,從而在至少一個光學(xué)部件(102)外部生成消逝場以對至少一個樣品(108)進行激發(fā)。探測系統(tǒng)還包括至少一個探測器元件(110),所述探測器元件與至少一個光學(xué)部件(102)直接接觸,以便探測來自至少一個激發(fā)樣品(108)的通過至少一個光學(xué)部件(102)的發(fā)光。
聲明:
“使用消逝場激發(fā)的輻射探測器” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)