本發(fā)明公開了一種金屬薄液膜腐蝕的薄層液膜測控方法及其電解池裝置,金屬薄液膜腐蝕的薄層液膜測控方法包括敞開液膜厚度和閉塞液膜厚度聯(lián)合測控的方法,以及敞開液膜厚度單獨測控的方法。金屬薄液膜腐蝕的薄層液膜測控方法采用的電解池裝置包括:螺旋測微器、外螺紋絕緣棒、鉑探針、內(nèi)螺紋絕緣管、電極臺、環(huán)形電極、圓形電極、輔助電極、電極負載臺、容器、參比電極、零阻電流計。本發(fā)明適用于研究基體金屬同時敞開和閉塞液膜關(guān)聯(lián)環(huán)境下的腐蝕電化學(xué)行為;同時又可單獨測控敞開液膜厚度,因此也適用于研究基體金屬處于敞開薄層液膜單一環(huán)境下的腐蝕電化學(xué)行為。