本發(fā)明涉及一種空間微小碎片的探測方法,屬于空間環(huán)境探測技術(shù)領域。探測薄膜由上到下包括俘獲碎片層、過渡層和基底材料;俘獲碎片層材料為1～4μm厚的Au;基底材料材料為1～3mm厚的石英玻璃,過渡層材料為50～100nm厚的Ir;將探測薄膜搭載在航天器的迎風面和背風面上,經(jīng)過空間暴露后,攜帶回地面;地面分析采用二次離子質(zhì)譜或離子槍剖析下X射線光電子能譜的分析方法,獲得探測薄膜分析后數(shù)據(jù)與空間碎片的相關(guān)數(shù)據(jù)的對應關(guān)系;從而獲得所俘獲碎片的化學組成。本發(fā)明利用低重量無功耗的探測薄膜,實現(xiàn)空間微小碎片的探測,俘獲碎片層所能俘獲并分析到的空間碎片為mg量級。