本發(fā)明提供了一種與試驗測試儀一起使用的帶有惰性載體基板的分析測試條,所述分析測試條包括分析測試條模塊以及
電化學(xué)和電學(xué)惰性的載體基板。分析測試條模塊具有第一電極部分、與第一電極部分成相對關(guān)系的第二電極部分、以及配置成堆疊單向構(gòu)型的第一電接觸焊盤和第二電接觸焊盤。電化學(xué)和電學(xué)惰性的載體基板具有上表面和外邊緣。此外,分析測試條模塊附接到電化學(xué)和電學(xué)惰性的載體基板的上表面,使得第一電接觸焊盤和第二電接觸焊盤延伸超過電化學(xué)和電學(xué)惰性的載體基板的外邊緣并且使得電化學(xué)和電學(xué)惰性的載體基板延伸超過分析測試條模塊。
聲明:
“具有堆疊單向接觸焊盤和惰性載體基板的測試條” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)